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FLA-6610T

FLA-6610T 高溫老化設(shè)備,是一款專(zhuān)門(mén)針對(duì)eMMC、UFS、
eMCP…等顆粒存儲(chǔ)芯片進(jìn)行高溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用專(zhuān)業(yè)
工控機(jī)和Windows系統(tǒng)控制,能夠同時(shí)支持1520顆芯片同步
老化測(cè)試,腔體可在產(chǎn)生高溫的同時(shí)確保溫度精準(zhǔn)。

詳細(xì)信息

性能特點(diǎn)

1:10層堆疊技術(shù),可同時(shí)測(cè)試10Tray 產(chǎn)品。

2:技術(shù)源自日本,使用FPGA (ARM)核心架構(gòu)

3:可同時(shí)針對(duì)1520顆芯片進(jìn)行老化測(cè)試

4:預(yù)留MES 系統(tǒng)對(duì)接接口

5:更換不同老化板即可生產(chǎn) eMCP/eMCP/ePOP 等不同產(chǎn)品

6:?jiǎn)晤wDUT 獨(dú)立電源設(shè)計(jì),保護(hù)產(chǎn)品


設(shè)備規(guī)格

設(shè)備型號(hào)FLA-6610T
使用產(chǎn)品類(lèi)別eMMC/eMCP/ePOP
溫度范圍常溫~+85°
測(cè)試DUT 數(shù)1520pcs
電源三相380V
功率20KV
尺寸1900mm(長(zhǎng))*1700mm(寬)*1900mm(高)
重量600kg