性能特點
1:占用空間小
2:可同時測試152pcs 產(chǎn)品
3:ARM 內可建制BIB 自我檢測功能
4:BIB 板內建制溫度偵測功能
5:預留MES 系統(tǒng)對接接口
6:單顆DUT 獨立電源設計,保護產(chǎn)品
設備規(guī)格
設備型號 | FP-006C |
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使用產(chǎn)品類別 | eMMC |
溫度范圍 | ‘-20°~85° |
測試DUT 數(shù) | 152pcs |
尺寸 | 400mm(長)*380mm(寬)*50mm(高) |
重量 | 4kg |
FP-006C 一款專門針對eMMC顆粒存儲芯片進行整盤產(chǎn)品高低溫老化的老化板。
采用整盤產(chǎn)品同時接觸技術,精度高。
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